摘要:Trench MOS是电力电子技术发展起来的新一代功率半导体器件,因其具有高耐压、大电流、低导通电阻、开关速度快等方面的优势,有着广阔的应用市场。本文首先介绍了Trench MOS的发展、应用以及前景,分析了Trench MOS工作原理及结构,研究了Trench MOS的电学特性。然后利用TSUPREM4 & MEDICI仿真工具设计了150V Trench MOS器件,分析了不同外延层浓度对Trench MOS击穿电压的影响。最后设计了终端结构,利用场限环技术,达到了抗150V击穿电压的目的。
关键词:转移特性;击穿特性;电学特性
目录
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论-1
1.1研究背景-1
1.2研究现状 -1
1.3主要工作内容-3
第二章 Trench MOS结构与工作原理-4
2.1 Trench MOS的基本结构-4
2.2 Trench MOS的工作原理-5
2.3 Trench MOS的工艺流程-7
2.4 仿真软件TSUPREM-4和MEDICI的介绍-8
第三章 Trench MOS器件设计和仿真分析-9
3.1设计方案-9
3.2器件仿真-9
3.3器件仿真结果分析-10
第四章 终端结构的分析-15
结束语-17
致 谢-18
参考文献-19
附录A-20
附录B-23
附录C-25